Methodologies of pattern recognition /

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Detalhes bibliográficos
Principais autores: International Conference on Methodologies of Pattern Recognition, Honolulu, 1968., Watanabe, Satoshi, Universidade do Havaí (Honolulu)., United States., Instituto de Engenheiros Elétricos e Eletrônicos.
Formato: Livro
Publicado em:
Assuntos:
Percepção de padrões -
Congressos.
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