Métodos de caracterização superficial por espectroscopia de elétrons /
Resumo: No presente trabalho são apresentados três métodos de caracterização superficial por especroscopia de elétrons, sendo eles: Espectroscopia de Elétrons Auger (AES), Espectroscopia de Fotoelétrons de Raio-X (XPS) e Difração de Elétrons de Baixa Energia (LEED). Apresentando também análise de re...
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| Formato: | Dissertação |
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