CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test /
cuit design in modern nano-scaled technologies.
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| Principais autores: | , , |
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| Formato: | Digital |
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| Endereço do item: | http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1 |
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