Análise de linhas de lâmina com substrato semicondutor e espessura da lâmina condutora /
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Principais autores: | Souza, Eduardo Amorim Martins de., Fernandes, Humberto César Chaves., Universidade Federal do Rio Grande do Norte. |
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Formato: | Dissertação |
Publicado em: |
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Assuntos: | |
Endereço do item: | https://app.bczm.ufrn.br/home/#/item/31007 |
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